Mercredi 17 décembre 2014 à 14h Alexandra Delvallée soutient sa thèse intitulée "Métrologie dimensionnelle de nanoparticules mesurées par AFM et par MEB".
Résumé de la thèse :
Les travaux présentés dans ce mémoire portent sur les mesures de tailles de nanoparticules par Microscopie à Force Atomique (AFM) et microscopie électronique à balayage (MEB). Des méthodes de mesures de tailles de nanoparticules sphériques sont présentées pour les deux instruments. Une technique de dépôt mettant en oeuvre une tournette et adaptée à ces deux techniques d’imagerie est spécifiquement développée. Un bilan d’incertitude complet associé à la mesure de taille nanoparticule par AFM est présenté et les principales sources d’incertitudes liées à la mesure par MEB sont présentées et évaluées.
Un logiciel permettant la mesure de taille de nanoparticules imagée par MEB et AFM a été développé durant ces travaux de thèse et sont explicités dans ce mémoire. Ce logiciel permet le traitement semi-automatique des images de nanoparticules acquises par AFM et par MEB. Enfin, des comparaisons de mesures de tailles de nanoparticules sphériques par AFM et par MEB sont effectuées et permettent de valider le principe de mesure en trois dimensions de taille de nanoparticules par la combinaison des deux méthodes de mesures.
Infos pratiques :
Lieu : ENSTA ParisTech, amphi 2.3.29
Comment venir à l'ENSTA ParisTech
Heure : début de la soutenance à 14h